华为的手机的耐热测试 :华为公布芯片测试电路及电路测试方法的新发明

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据中国专利公布公告网显示,由华为技术有限公司申请专利的新发明“芯片测试电路及电路测试方法”在近日公布华为的手机的耐热测试

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:华为公布芯片测试电路及电路测试方法的新发明-第1张图片-太平洋在线下载

据介绍,该专利可用于EDA软件中对芯片电路进行测试,用于解决目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置复杂的问题华为的手机的耐热测试

说明书指出,该测试电路将测试向量的输入数据通过测试总线的输入传输至数据分发电路中,通过数据分发电路传输至被测电路)的扫描输入通道,被测电路扫描结束后,被测电路的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路传输至测试总线的输出完成被测电路的测试华为的手机的耐热测试

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:华为公布芯片测试电路及电路测试方法的新发明-第2张图片-太平洋在线下载

说明书表示,通过对第一选择器的配置实现数据分发电路与测试总线的动态对应关系,从而使得测试资源能够得以动态分配,极大程度地优化了太平洋在线手机版绕线拥塞的问题,以便降低测试成本,并且可以简化配置过程,从而提高测试效率华为的手机的耐热测试

标签: 电路 华为 测试 发明 芯片

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